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DPV-2000是一种开创性的光学探测设备,它可对热喷涂焰流中的单个粒子的特征进行在线测量。只须5分钟,你就可得到粒子的以下信息:
 
*温度测量,1000℃~4000℃
*速度测量,1~1200m/s
*粒径测量,10μm~300μm
*流量的测量 
*根据不同的喷涂条件,每秒钟可分析高达4000个颗粒
*温度、尺寸和速度的分布直方图,并附带有平均值和标准差
*自动调中,且探头运动和朿流图形测绘由计算机控制
 
主要优点:
*测量飞行中单个粒子的特征(不仅仅是平均值)
*T,V和D的同时测量
*依据测试结果,有可能实施反馈调整措施
*由于节约了试样和报废工件,成本大幅下降
 
该设备最初是用工艺观察、建模和开发,但DPV-2000经过改进已经演变成生产现场(在航空和汽车工业)的监控工具。DPV-2000装备了与机械手动作同步的全自动测量程序,从而使操作者人为干预最低化。
 
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由于有些太冷(或太小)的颗粒发射出的红外线能量不足,标准配置的DPV-2000探测不到。而CPS-2000是开发用于检测这类粒子的。总的原理是将照射光计入DPV-2000的检测量,这样检测的就是粒子散射的光线(而不是幅射光)。冷粒子的速度,流量和大小就可被此系统所测量。当然,这种形式不能测量粒子温度。
 
CPS-2000采用一个高能、固态激光二极管单元,且调整在DPV高温计的一个波长上。单色IR光被导入测量,通过光纤耦合到一个精心设计的波束整形器,以获得非常一致的光(粒径大小的测量精度与光束的均匀性密切相关)。
 
此系统可检测出小到10μm的陶瓷颗粒,和小到6μm的金属颗粒。CPS-2000典型应用是:
 
*评估未被正确加热的喷涂材料所占的比例
*确定进入喷涂焰流中的冷颗粒的位置
*监控喷砂过程
*其他
 
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